"നാനോസാങ്കേതികവിദ്യ" എന്ന താളിന്റെ പതിപ്പുകൾ തമ്മിലുള്ള വ്യത്യാസം
Content deleted Content added
വരി 60:
====സ്കാനിങ്ങ് ടണലിങ് മൈക്രോസ്കോപ്====
[[File:Stmsample.jpg|thumb|150px|left|സ്കാനിങ്ങ് ടണലിങ് മൈക്രോസ്കോപ്]]
ഇതിൽ പരീക്ഷണ വസ്തുവിലൂടെ നുഴഞ്ഞുകടക്കുന്ന (tunnelling എന്ന ക്വാണ്ടം പ്രതിഭാസം) വൈദ്യുതി തിട്ടപ്പെടുത്തിയാണ് ആറ്റമികതലത്തിലെ സൂക്ഷ്മ ചിത്രങ്ങളാക്കുന്നത്. എൺപതുകളുടെ തുടക്കത്തിൽ ഗേർഡ് ബിന്നിങ് (Gerd Binning), ഹെന്റിച്ച് റോഹ്റർ എന്നിവരാണ് ഇത് വികസിപ്പിച്ചെടുത്തത്. ഉപകരണത്തിലെ അതിസൂക്ഷ്മാഗ്രം പരീക്ഷണപ്രതലത്തിന് സമീപത്തേക്ക് കൃത്യമായ അകലത്തിൽകൊണ്ടുവരും. ടണലിങ് കറന്റ് ആംപ്ലിഫയർ, വിദൂര നിയന്ത്രണ/സ്കാനിങ് സംവിധാനം (distance control and scanning unit) എന്നിവ ചേർന്നതാണ് ഉപകരണം. അടിസ്ഥാന മാതൃകയെ അവലംബിച്ച് സ്കാനിങ് ടണലിങ് മൈക്രോസ്കോപ്പിന്റെ മറ്റ് രൂപാന്തരങ്ങളും എത്തിയിട്ടുണ്ട്. ഫോട്ടോൺ എസ്.ടി.എം ഉദാഹരണം.<ref>[http://www.almaden.ibm.com/vis/stm/ സ്കാനിങ്ങ് ടണലിങ് മൈക്രോസ്കോപ്]</ref>
====ആറ്റമിക ഫോഴ്സ് മൈക്രോസ്കോപ്====
[[File:Atomic force microscope by Zureks.jpg|thumb|150px|right|ആറ്റമിക ഫോഴ്സ് മൈക്രോസ്കോപ്]]
ഉയർന്ന ദൃശ്യസൂക്ഷ്മത നല്കുന്ന ഈ മൈക്രോസ്കോപ്പിന്റെ വികാസമാണ് നാനോ സാങ്കേതികവിദ്യയുടെ ദ്രുതഗതിയിലുള്ള വളർച്ചയ്ക്കു വഴിയൊരുക്കിയത്. ഒരു വശത്തേക്ക് നീണ്ടുനിൽക്കുന്ന ദണ്ഡിന്റെ (കാന്റിലിവർ) അറ്റത്ത് അനുഭവപ്പെടുന്ന പ്രതല അറ്റോമിക് ബല വിന്യാസമാണ് അതിസൂക്ഷ്മ ചിത്രം രേഖപ്പെടുത്തലിന് ഉപയോഗിക്കുന്നത്. കാന്റിലിവറിന്റെ ഒരറ്റത്ത് കൂർത്ത അഗ്രം പിടിപ്പിച്ചിരിക്കും. ഇതാണ് പരീക്ഷണ വസ്തുവിൽ പറ്റിച്ചേർന്ന് വിവരം ശേഖരിക്കാൻ സഹായിക്കുന്നത്. ചലിച്ചു തുടങ്ങുമ്പോൾ ആറ്റമിക് സ്വഭാവത്തിനനുസരിച്ച് നേരിയ തള്ളൽ/ബലം പ്രോബിൽ അനുഭവപ്പെടും. ലേസർ ബീമിന്റെയും മറ്റും സഹായത്താൽ ഓരോ ആറ്റത്തിന്റെയും വിശദാംശങ്ങൾ രേഖപ്പെടുത്തുന്നു. 1986-ലാണ് എ.എഫ്.എം. കണ്ടെത്തിയത്.<ref>[http://www.itg.uiuc.edu/ms/equipment/microscopes/afm.htm ആറ്റമിക ഫോഴ്സ് മൈക്രോസ്കോപ്]</ref>
== സാധ്യതകൾ ==
| |||