"ട്രാൻസ്മിഷൻ ഇലക്ട്രോൺ സൂക്ഷ്മദർശിനി" എന്ന താളിന്റെ പതിപ്പുകൾ തമ്മിലുള്ള വ്യത്യാസം

വരി 106:
ബ്രൈറ്റ് ഫീൽഡ് ചിത്രീകരണ രീതിയാണ് ടി.ഇ.എമ്മിൽ സാധാരണയായി ഉപയോഗിക്കാറ്.നിരീക്ഷിക്കപ്പെടുന്ന വസ്തുവിന്റെ കട്ടിക്കുള്ള വ്യതിയാനം അനുസരിച്ച് ഇലക്ട്രോൺ ആഗിരണം ചെയ്യപ്പെടുന്ന തോത് വ്യത്യാസപ്പെട്ടിരിക്കും. അങ്ങനെ ചിത്രത്തിൽ കോണ്ട്രാസ്റ്റ് ഉണ്ടാകുന്നു. കൂടുതൽ കട്ടിയുള്ള ഭാഗം അഥവാ കൂടിയ അറ്റോമിക സംഖ്യ ഉള്ള ഭാഗം ഇരുണ്ടും കട്ടി കുറഞ്ഞ അഥവാ കുറഞ്ഞ അറ്റോമിക സംഖ്യ ഉള്ള ഭാഗം തെളിഞ്ഞും കാണാം.ഇത് ത്രിമാന തലത്തിലുള്ള വസ്തുവിന്റെ ഒപ്റ്റിക് അക്ഷത്തിൽക്കൂടിയുള്ള ദ്വിമാന പ്രൊജക്ഷനു സമാനമാണ്. ഇത് ലാംബർട്ട് ബിയർ നിയമം അനുസരിച്ച് വിശദീകരിക്കാം<ref name="FultzAndHowe"/>.എന്നാൽ ഇലക്ട്രോണിനെ ഫേസിനുണ്ടാകുന്ന മാറ്റം കൂടി പരിഗണിച്ചാൽ വിശദീകരണത്തിന് കൂടുതൽ സങ്കീർണമായ നിയമങ്ങൾ വേണ്ടി വരും<ref name="Cowley"/>.
====ഡിഫ്രാക്ഷൻ കോണ്‌ട്രാസ്റ്റ്====
[[Image:TEM_micrograph_dislocations_precipitate_stainless_steel_1.jpg|right|thumb|230px|Transmission electron micrograph of [[dislocation]]s in steel, which are faults in the structure of the crystal lattice at the atomic scale]]
 
==അവലംബം==