"സ്കാനിങ് ടണലിങ് സൂക്ഷ്മദർശിനി" എന്ന താളിന്റെ പതിപ്പുകൾ തമ്മിലുള്ള വ്യത്യാസം

ടണലിങ് പ്രതിഭാസത്തെ അടിസ്ഥാനമാക്കി പ്രവർത്തിച്ച് പ്രതലങ്ങളുടെ സ്ഥാനീയ ചാലകത മാപനം ചെയ്യാനുപയോഗിക്കുന്ന ഒരുപകരണമാണ് '''സ്കാനിങ് ടണലിങ് സൂക്ഷ്മദർശിനി''' (STM). ഈ സൂക്ഷമദർശിനിയുടെ കണ്ടുപിടുത്തം ഉപജ്ഞാതാക്കളായ [[Gerd Binnig|ജർട് ബിന്നിംഗ്]], [[Heinrich Rohrer|ഹെൻറിച്ച് റോഹ്രേർ ]] എന്നിവരേ 1986 ഇലെ നോബൽ സമ്മാനതിനു അർഹരാക്കി. <ref name="Binnig">{{Cite journal|author=G. Binnig, H. Rohrer|title=Scanning tunneling microscopy|journal=IBM Journal of Research and Development|volume=30|page=4|year=1986}}</ref><ref>[http://nobelprize.org/nobel_prizes/physics/laureates/1986/press.html Press release for the 1986 Nobel Prize in physics]</ref> ഒരു സ്കാനിങ് ടണലിങ് സൂക്ഷ്മദർശിനിയുടെ വിലങ്ങനെയുള്ള കൃത്യത (horizontal resolution) 0.1 നാനോമീറ്റരും ലംബമാനമായ കൃത്യത 0.01 നാനോമീറ്ററുമാണ്. <ref name="Bai">{{Cite book|author=C. Bai|title=Scanning tunneling microscopy and its applications|publisher=Springer Verlag|place=New York|year=2000|url=http://books.google.com/?id=3Q08jRmmtrkC&pg=PA345|isbn=3-540-65715-0}}</ref> തന്മൂലം കൃത്യതയോടെ പരമാണുകണങ്ങളുടെ ചിത്രങ്ങൾ എടുക്കുവാനും അവയെ manipulate ചെയ്യുവാനും സാധ്യമാകുന്നു. STM സൂക്ഷ്മദർശിനി അത്യുന്നത ശ്യുന്യത(ultra high vacuum), വായു, ജലം, മറ്റു ദ്രാവകങ്ങൾ, വാതകങ്ങൾ, മുതലായ പരിസ്ഥിതികളിൽ, വ്യത്യസ്ഥ താപനിലകളിൽ പ്രവർത്തിപ്പിക്കുവാനാകും.<ref name="Chen">{{Cite book|author=C. Julian Chen|title=Introduction to Scanning Tunneling Microscopy|year=1993|url=http://www.columbia.edu/~jcc2161/documents/STM_2ed.pdf|isbn=0-19-507150-6|publisher=Oxford University Press}}</ref>